Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU)
Изобретатель Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c805dbe31185fb7b2837cefb1bf70f75.jpg)
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне относится к гиперболоидной масс-спектроскопии и может быть использован при создании приборов с высоким разрешением и чувствительностью. Способ заключается в том, что ионы вводят в рабочий объем анализатора, захватывают полем, сортируют по удельным зарядам,...
2269179![Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс- спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс- спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dfcae55d695fa8a33cbf1869e08707b2.jpg)
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс- спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне относится к гиперболоидной масс-спектроскопии и может быть использован при создании приборов с высоким разрешением и чувствительностью. Способ заключается в том, что ионы вводят в рабочий объем анализатора вблизи радиальной его плоскости, сортируют по удел...
2269180![Способ ввода анализируемых ионов в рабочий объем масс-анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа трехмерной ловушки Способ ввода анализируемых ионов в рабочий объем масс-анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа трехмерной ловушки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/30758d17c25c13b5f075ff8ab02f6a9a.jpg)
Способ ввода анализируемых ионов в рабочий объем масс-анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа трехмерной ловушки
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного вида с высокой чувствительностью и разрешающей способностью. Способ ввода анализируемых ионов заключается в том, что ионы, образованные вне рабочего объема, вводят в рабочий объем анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа «трехмерная ловушка» вблизи радиальной плоскости чере...
2281580![Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка"](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8d79934cda5bace47e2dc6fad4a1a12d.jpg)
Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка"
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа «трехмерная ионная ловушка» заключается в том, что ввод ионов в объем ловушки осуществляют одновременно с изменением параметров электрического поля (амплитуды и частоты). При этом изм...
2308117![Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс)](https://img.patentdb.ru/i/200x200/96529832e5f380ab101635e02f5802d9.jpg)
Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс)
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) заключается в том, что анализируемые ионы вводят через входной канал в анализа...
2399985![Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь") Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")](https://img.patentdb.ru/i/200x200/78576c5c168e4de3452935b25316b242.jpg)
Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")
Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, «монополь», «триполь») относится к области масс-спектрометрии и может быть использован при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Анализатор содержит устройство сортировки ионов по удельным зарядам, устройство ввода анализируемых ионов в устройство с...
2447539![Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b5abe39679d99ff410cc55c52bd768d.jpg)
Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой
Изобретение относится к области масс-спектрометрии. Анализатор содержит электродную систему и два электрода, ограничивающие по оси z электродную систему, в одном из них выполнены два отверстия: для ввода и вывода анализируемых ионов. При этом значения координат центров отверстий для ввода и для вывода ионов по одноименным координатным осям равны по модулю, но хотя бы одна пара соответствующих зна...
2458428![Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d5e28c81561794c70d9941781d9067e1.jpg)
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании аналитических приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Технический результат- повышение разрешающей способности за счет использования областей общей диаграммы стабильности с повышенной эффективностью сортировки...
2557010