Козьяков Николай Николаевич (RU)

Использование: изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации интегральных схем (ИС), и может быть использовано для выделения из партии ИС повышенной надежности с высоким уровнем достоверности в процессе производства. Сущность изобретения заключается в выделении партии ИС, имеющей повышенную надежность. На партию ИС воздействуют электростатическими разряд...

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано для отбора из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности. Технический результат: расширение функциональных возможностей. Сущность: проводят измерение т-характеристик переходов приборов в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлени...

Изобретение относится к измерению шумов полупроводниковых изделий. Сущность: устройство содержит предварительный усилитель, два независимых канала, работающих в одинаковой полосе частот на разных центральных частотах, дифференциальный усилитель, логарифмическую шкалу и устройство автоматической регулировки усиления, позволяющее автоматически калибровать коэффициент усиления предварительного усилит...

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности. Технический результат: высокий уровень достоверности. Сущность: проводят измерения m-характеристик цепей интегральных схем в диапазоне прямого тока (1-10 мА) в исходном состоянии, после воздействия 5-10 электростатических разрядов (ЭСР) положительно...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности варикапов, и может быть использовано для отбраковки потенциально ненадежных приборов, а также для выделения приборов повышенной надежности как на этапе производства, так и на этапе применения. Сущность: измерение максимальной емкости варикапов проводится до воздействия электростатического заряда (ЭСР),...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю полупроводниковых приборов. Сущность: на представительной выборке биполярных транзисторов измеряется значение обратного тока эмиттера после каждого воздействия пятью импульсами электростатического разряда (ЭРС) через каждые 250 В до появления параметрических отказов. Оценку стойкости к ЭСР проводят по минимальному и среднему значениям о...

Предложенное устройство содержит генератор линейно изменяющегося напряжения, выход которого соединен с входной клеммой для подключения исследуемого полупроводникового изделия, логарифмичесий усилитель, аналогово-цифровой преобразователь, цифроаналоговый преобразователь, электронно-вычислительную машину, монитор, схему управления усилителем и схему управления и запуска генератора линейно изменяющег...

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых приборов (ПП), и может быть использовано для отбора из партии ПП повышенной надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной промышленности. Технический результат: повышение достоверности и расширение функциональных возможностей....

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации интегральных схем (ИС), и может быть использовано для выделения из партии ИС повышенной надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что КНП измеряют при нормальной и повышенной температуре,...

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации транзисторов, и может быть использовано для выделения транзисторов повышенной надежности из партии в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в измерении значений информативного параметра - обратного тока э...

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых изделий (диодов, транзисторов, интегральных схем), и может быть использовано для разделения изделий по надежности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что на представительной...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых приборов, и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых приборов как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что механические испытания...