Пикуль Ольга Юрьевна (RU)
Изобретатель Пикуль Ольга Юрьевна (RU) является автором следующих патентов:
Способ определения угловой апертурной характеристики оптической активности кристалла
Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Технический результат заключается в повышении точн...
2271531Способ определения знака вращения плоскости поляризации излучения в оптически активном кристалле
Способ относится к области оптического приборостроения, в частности к вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов, и приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Способ заключается в пропускании циркулярно поляризованного излучения через исследуемую кристаллическую пл...
2288460Устройство для определения оптического знака кристалла
Устройство для определения оптического знака кристалла относится к области оптического приборостроения, в частности к преобразователям оптического излучения, преобразователям теплового изображения в кристаллах, приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от оптического знака кристалла. Техническим результатом является повышение достоверности определения оптического знака кристалл...
2319942Способ определения оптического знака кристалла
Изобретение относится к области оптического приборостроения. Способ определения оптического знака кристалла осуществляют в оптической системе, содержащей последовательно расположенные и установленные перпендикулярно оси системы источник монохроматического излучения, поляризатор, рассеиватель, плоскопараллельную кристаллическую пластинку с положительным оптическим знаком и оптической осью, перпен...
2366916Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы
Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы включает пропускание сходящегося монохроматического излучения через оптическую систему, содержащую перпендикулярно установленные к ее оси последовательно расположенные источник излучения, скрещенные поляризатор и анализатор, между которыми устанавливают исследуемую кварцевую кристаллическую линзу. Оптическую ось линзы совмещают с осью о...
2379656Способ визуального определения форм поляризации оптического излучения
Изобретение относится к области исследований кристаллохимической и магнитной структуры твердых тел, строения биологических объектов, а также сред с естественной или наведенной оптической анизотропией оптическими методами и предназначено для анализа и контроля поляризации используемого излучения. Способ визуального определения форм поляризации оптического излучения заключается в пропускании исслед...
2401446Способ определения положения оптической оси фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4
Изобретение относится к области поляризационных измерений и предназначено для определения параметров кристаллических пластинок, изготовленных из одноосных кристаллов. Способ осуществляют с помощью оптической системы, содержащей установленные перпендикулярно ее оси системы поляризатор, исследуемую фазовую анизотропную кристаллическую пластинку λ/4, фазовый компенсатор, анализатор, скрещенный с пол...
2442972