PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Пикуль Ольга Юрьевна (RU)

Изобретатель Пикуль Ольга Юрьевна (RU) является автором следующих патентов:

Способ определения угловой апертурной характеристики оптической активности кристалла

Способ определения угловой апертурной характеристики оптической активности кристалла

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Технический результат заключается в повышении точн...

2271531

Способ определения знака вращения плоскости поляризации излучения в оптически активном кристалле

Способ определения знака вращения плоскости поляризации излучения в оптически активном кристалле

Способ относится к области оптического приборостроения, в частности к вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов, и приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Способ заключается в пропускании циркулярно поляризованного излучения через исследуемую кристаллическую пл...

2288460

Устройство для определения оптического знака кристалла

Устройство для определения оптического знака кристалла

Устройство для определения оптического знака кристалла относится к области оптического приборостроения, в частности к преобразователям оптического излучения, преобразователям теплового изображения в кристаллах, приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от оптического знака кристалла. Техническим результатом является повышение достоверности определения оптического знака кристалл...

2319942

Способ определения оптического знака кристалла

Способ определения оптического знака кристалла

Изобретение относится к области оптического приборостроения. Способ определения оптического знака кристалла осуществляют в оптической системе, содержащей последовательно расположенные и установленные перпендикулярно оси системы источник монохроматического излучения, поляризатор, рассеиватель, плоскопараллельную кристаллическую пластинку с положительным оптическим знаком и оптической осью, перпен...

2366916

Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы

Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы

Способ определения дефектов кварцевой кристаллической линзы включает пропускание сходящегося монохроматического излучения через оптическую систему, содержащую перпендикулярно установленные к ее оси последовательно расположенные источник излучения, скрещенные поляризатор и анализатор, между которыми устанавливают исследуемую кварцевую кристаллическую линзу. Оптическую ось линзы совмещают с осью о...

2379656


Способ визуального определения форм поляризации оптического излучения

Способ визуального определения форм поляризации оптического излучения

Изобретение относится к области исследований кристаллохимической и магнитной структуры твердых тел, строения биологических объектов, а также сред с естественной или наведенной оптической анизотропией оптическими методами и предназначено для анализа и контроля поляризации используемого излучения. Способ визуального определения форм поляризации оптического излучения заключается в пропускании исслед...

2401446

Способ определения положения оптической оси фазовой анизотропной кристаллической пластинки  /4

Способ определения положения оптической оси фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4

Изобретение относится к области поляризационных измерений и предназначено для определения параметров кристаллических пластинок, изготовленных из одноосных кристаллов. Способ осуществляют с помощью оптической системы, содержащей установленные перпендикулярно ее оси системы поляризатор, исследуемую фазовую анизотропную кристаллическую пластинку λ/4, фазовый компенсатор, анализатор, скрещенный с пол...

2442972