Саунин Сергей Алексеевич (RU)
Изобретатель Саунин Сергей Алексеевич (RU) является автором следующих патентов:
![Криогенный сканирующий зондовый микроскоп Криогенный сканирующий зондовый микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ef3872738e70f0211cac99d063a131de.jpg)
Криогенный сканирующий зондовый микроскоп
Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к приборам для исследования образцов на атомарном уровне в условиях сверхнизких температур. Криогенный сканирующий зондовый микроскоп содержит первый фланец, на котором установлены привод вращения со штоком, а также линейный привод с первым захватом, ориентирующее устройство, второй фланец, систему виброзащиты, держатель зонда с зон...
2271583![Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/00a49262b7938ba1f5af9d58a470edde.jpg)
Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом
Изобретение относится к магнитно-силовым сканирующим зондовым микроскопам (МСМ) и может быть использовано для измерения локальных магнитных характеристик образца с нанометровым разрешением во внешнем магнитном поле. Согласно изобретению, магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом содержит блок управления, держатель зондового датчика с зондовым датчиком и держатель образца, установленные с во...
2276794![Способ регистрации отклонения консоли зонда сканирующего микроскопа с оптическим объективом Способ регистрации отклонения консоли зонда сканирующего микроскопа с оптическим объективом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8b556430b3c50ca70be4d44c111b40fd.jpg)
Способ регистрации отклонения консоли зонда сканирующего микроскопа с оптическим объективом
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к способам измерения отклонения консоли зонда сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), оснащенного оптическим объективом для наблюдения исследуемой области образца. Формирование луча от источника света, направление его через оптический объектив на отражающую поверхность консоли зонда, получение с использованием оптического...
2279151![Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d1f72c79ab5c842665e262daa3f58300.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа и близкопольного оптического микроскопа. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством механической модификации пов...
2282257![Способ сканирования объектов с помощью сканирующего зондового микроскопа Способ сканирования объектов с помощью сканирующего зондового микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dd0426de98b5304af902d934192c2dac.jpg)
Способ сканирования объектов с помощью сканирующего зондового микроскопа
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, близкопольного оптического микроскопа и др. Объект устанавливают на первом пьезосканере. Над исследуемой поверхностью объекта пом...
2282902![Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством срезания тонких слоев объекта Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством срезания тонких слоев объекта](/img/empty.gif)
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством срезания тонких слоев объекта
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров, физических характеристик поверхности и распределения этих характеристик в объеме объекта путем срезания тонких слоев объекта с последующим исследованием вновь образованных поверхностей объекта. СЗМ, совмещенный с устройством срезания тонких с...
2287129![Двухкоординатный микропозиционер Двухкоординатный микропозиционер](https://img.patentdb.ru/i/200x200/15a6a7a50ce944b9c66c4e56569b6218.jpg)
Двухкоординатный микропозиционер
Изобретение относится к нанотехнологии, а именно к устройствам, обеспечивающим перемещение объекта в плоскости по двум координатам, и может быть использовано для перемещения образцов, носителей образцов, носителей зондов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии. Изобретение направлено на повышение быстродействия и точности измерений. Этот результат обеспечивается за счет того, что дву...
2306621![Способ оценки качества вакцин Способ оценки качества вакцин](/img/empty.gif)
Способ оценки качества вакцин
Предлагаемое изобретение относится к области биологии и медицины. Для оценки качества живых вирусных вакцин используют раствор вакцины с вирусами и фрагментами их разрушения. При нанесении раствора вакцины на поверхность подложки проводят кратковременную инкубацию и сорбцию с сохранением нативной структуры компонентов вакцины. Осуществляют сканирование зоны измерения зондом в режиме сканирующего з...
2339036![Резонансное устройство на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа Резонансное устройство на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3afe43914054f59b19c2e09dbb070483.jpg)
Резонансное устройство на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа
Изобретение относится к нанотехнологии и сканирующей зондовой микроскопии. Технический результат направлен на повышение чувствительности устройства и расширение его функциональных возможностей. Резонансное устройство на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит держатель кварцевого резонатора, кварцевый резонатор с двумя плечами, с электрическими выводами и закр...
2358340