Москалев Вячеслав Юрьевич (RU)
Изобретатель Москалев Вячеслав Юрьевич (RU) является автором следующих патентов:
![Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9f2080e974a7caa319d65a16ff8c10bb.jpg)
Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем
Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Сущность: измеряют динамический ток потребления до, после воздействия электростатическим разрядом (ЭСР) и после температурного отжига. Воздействие 5-10 импульсами ЭСР обоих знаков проводят предельно допустимым по техническим условиям (ТУ) напряжением. Температурный отжиг прово...
2276378![Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем](/img/empty.gif)
Способ отбраковки потенциально ненадежных интегральных схем
Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Сущность: проводят измерения амплитуды динамического тока потребления для каждого инвертора схемы в цепи питания и земли при включении и выключении инверторов до и после воздействия электростатического разряда (ЭСР). Определяют коэффициенты К=IДвыкл/IДвкл для каждого инвертора...
2284538![Устройство для выявления потенциально ненадежных полупроводниковых интегральных схем методом анализа форм и/или параметров динамического тока потребления Устройство для выявления потенциально ненадежных полупроводниковых интегральных схем методом анализа форм и/или параметров динамического тока потребления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/530cef5abfa25643f37955f289ddd8d4.jpg)
Устройство для выявления потенциально ненадежных полупроводниковых интегральных схем методом анализа форм и/или параметров динамического тока потребления
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых интегральных схем (ИС), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя. Технический результат: повышение точности диагностики и расширения функциональных возможностей контроля ИС. Сущность: устройство содержит генератор тестов, блок управления генератором тестов, источник п...
2348049