Быков Андрей Викторович (RU)
Изобретатель Быков Андрей Викторович (RU) является автором следующих патентов:
![Устройство для крепления диодов Устройство для крепления диодов](/img/empty.gif)
Устройство для крепления диодов
Изобретение относится к радиотехнике. Технический результат - повышение надежности. Технический результат достигается за счет уменьшения изгибающего усилия на диод при его расположении перпендикулярно плоскости втулки и закреплении выводов диодов с металлизированным слоем с разных сторон втулок. 2 з.п. ф-лы, 5 ил. Предлагаемое изобретение относится к радиотехнике, в частности к технике СВ...
1840429![Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/00a49262b7938ba1f5af9d58a470edde.jpg)
Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом
Изобретение относится к магнитно-силовым сканирующим зондовым микроскопам (МСМ) и может быть использовано для измерения локальных магнитных характеристик образца с нанометровым разрешением во внешнем магнитном поле. Согласно изобретению, магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом содержит блок управления, держатель зондового датчика с зондовым датчиком и держатель образца, установленные с во...
2276794![Зонд для сканирующей емкостной микроскопии Зонд для сканирующей емкостной микроскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/51fa7433fd5b998de35dfc799ba2938e.jpg)
Зонд для сканирующей емкостной микроскопии
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к системам измерения емкости между зондом и образцом из металла или полупроводника, покрытого тонким слоем диэлектрика. Зонд состоит из консоли с укрепленной на одном ее конце иглой, закрепленной на чипе другой стороной. Зонд имеет проводящий слой на поверхности зонда со стороны иглы. Устанавливают проводящий экран, отделе...
2289862![Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9c74f81829c17cd7a71643d2cec05582.jpg)
Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Способ включает первое сканирование поверхности объекта с регистрацией сигнала вертикальных перемещений сканера и сигнала взаимодействия зонда с объектом, второе сканирование поверхности объекта в обратном направлении с регистрацией сигнала вертикальных перемещений сканера и сигнала взаимодействия зонда с объектом, вычитание из сигн...
2329465![Микрополосковое направленное устройство Микрополосковое направленное устройство](https://img.patentdb.ru/i/200x200/777cb1e3af17c129da85e159b51114a1.jpg)
Микрополосковое направленное устройство
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот и может быть использовано в радиоэлектронных приемо-передающих трактах. Техническим результатом является повышение технологичности регулирования электрических параметров устройства. Указанный технический результат достигается тем, что в микрополосковом направленном устройстве направленный ответвитель снабжен средствами усиления направленности в...
2364996![Электрохимическая ячейка с магнитной системой Электрохимическая ячейка с магнитной системой](/img/empty.gif)
Электрохимическая ячейка с магнитной системой
Устройство предназначено для проведения электрохимических реакций в магнитном поле с возможностью контроля проведения процесса. Сущность изобретения: в электрохимическую ячейку с магнитной системой, включающую основание, камеру с электролитом, где расположена подложка, электрически соединенная с блоком управления, по меньшей мере, один электрод, также электрически соединенный с блоком управления,...
2399041![Сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения Сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения](/img/empty.gif)
Сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения
Изобретение относится к зондовой микроскопии, а именно к устройствам, обеспечивающим комплексные исследования сложных объектов при контроле и создании требуемой среды измерения. В сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения введены модульный блок откачки, сопряженный с платформой, герметичный кожух с, по меньшей мере, одним оптически прозрачным окном, имеющим возможность ваку...
2401983![Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств](/img/empty.gif)
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа. Также в предложенном устройстве предусмотрена возможность измерения массы тонкопленочного образца и диссипативных свойств то...
2407021![Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9da1e429f1f567525cc12b3caa596fca.jpg)
Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, преимущественно атомно-силовой микроскопии, и может быть использовано для измерений размеров нанообъектов и рельефа поверхностей, имеющих перепад высот наноразмера. Сущность изобретения заключается в том, что в способе измерения рельефа и свойств поверхности для сканирующего зондового микроскопа сканирование осуществляют в направле...
2428655![Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/38ea8f4f5ff4dc83a1c2bab2265c0c1b.jpg)
Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а именно к устройствам, обеспечивающим управление сканирующими зондовыми микроскопами. Блок управления для сканирующих зондовых микроскопов, включающих вибрационный зондовый датчик, вертикальный привод для взаимного перемещения датчика и образца перпендикулярно плоскости сканирования и измерительный преобразователь сигналов от вибрационног...
2428700![Электрический разъемный вакуумный соединитель для герметизации физических приборов Электрический разъемный вакуумный соединитель для герметизации физических приборов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c95eebab55f0c8160bd32bf2b8f39984.jpg)
Электрический разъемный вакуумный соединитель для герметизации физических приборов
Изобретение может быть использовано как вакуумный электрический ввод, а также для герметизации физических приборов с негерметичными стандартными многоштырьковыми разъемами. В электрическом разъемном вакуумном соединителе первый и третий разъем, установленные на плату с токоведущими дорожками, образуют переходную плату, которая жестко установлена на стойках внутри фланца. По всему периметру первой...
2452065![Свч-переключатель Свч-переключатель](/img/empty.gif)
Свч-переключатель
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ) и может быть использовано для переключения СВЧ-сигналов в фидерных трактах различного назначения, в частности при создании СВЧ-переключателя «прием-передача». Технический результат предлагаемого изобретения - увеличение полосы рабочих частот при сохранении уровня рабочей мощности без усложнения схемы управления. Указанный технический резул...
2454758![Инерционный шаговый двигатель Инерционный шаговый двигатель](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2c6cb186a6ff1ba6e25bcd4e3035221d.jpg)
Инерционный шаговый двигатель
Изобретение относится к электротехнике, к устройствам механического перемещения объектов вдоль одной координаты и может быть использовано, например, в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) для сближения зонда и образца либо для перемещения образцов в установках электронного, ионного, зондового или иного воздействия. Инерционный шаговый двигатель включает основание с первым пьезомодулем, соединенн...
2465712![Емкостной датчик для измерения линейных перемещений Емкостной датчик для измерения линейных перемещений](/img/empty.gif)
Емкостной датчик для измерения линейных перемещений
Изобретение относится к области прецизионных измерений перемещений посредством измерения емкости и может быть использовано для определения линейных перемещений сканирующих устройств в сканирующих зондовых микроскопах (СЗМ). Сущность: датчик содержит измерительную емкость и опорную емкость, подключенные к первому входу интегратора, включающего операционный усилитель и емкость. Между измерительной...
2472106![Сканирующий зондовый микроскоп для биологических применений Сканирующий зондовый микроскоп для биологических применений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d31b42fe79183ad9ab09ccdee342f3c9.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп для биологических применений
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете. СЗМ содержит предметный стол инвертированного оптического микроскопа и измерительную головку, включаю...
2472165![Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/78d70c2d5a1c10a4dcfb04e6560903cd.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом
Устройство относится к сканирующим зондовым микроскопам (СЗМ) и предназначено для одновременной работы зондового и оптического микроскопов с визуализацией данных на экране компьютера. Сущность изобретения заключается в том, что оптический микроскоп содержит базовый элемент с крышкой, на котором установлено оптоэлектронное устройство с объективом и матрицей ПЗС, сопряженное с трехкоординатным ман...
2488126![Сканирующий зондовый микроскоп Сканирующий зондовый микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/07d7b8389b062ca0a501b4b4f7005294.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп
Изобретение относится к нанотехнологии и сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, позволяющим получать информацию о топографической структуре образца, локальной жесткости, трении, а также об оптических свойствах поверхности в режиме близкопольного оптического микроскопа. Сканирующий зондовый микроскоп включает платформу с блоком предварительного сближения, пьезосканер,...
2494406![Сумматор свч сигналов Сумматор свч сигналов](/img/empty.gif)
Сумматор свч сигналов
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ), в частности к устройствам сложения (деления) СВЧ сигналов, и может быть использовано для сложения (деления) СВЧ сигналов в фидерных трактах техники связи, радиолокационных устройств, в телевидении, в измерительной технике. Технический результат - уменьшение потерь СВЧ сигнала, приходящего от одного входа к выходу при отсутствии согласова...
2502160![Резонансная волноводно-щелевая антенна Резонансная волноводно-щелевая антенна](/img/empty.gif)
Резонансная волноводно-щелевая антенна
Изобретение относится к антенной технике и может быть использовано при создании антенных систем в радионавигации и радиолокации. Технический результат - расширение рабочего диапазона частот без ухудшения коэффициента направленного действия и согласования антенны при сохранении направления главного лепестка диаграммы направленности, а также низкой стоимости и высокой технологичности. Для этого в...
2504873![Контактный свч переключатель Контактный свч переключатель](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7edcfa021bebb171edfb8562d7ae41ca.jpg)
Контактный свч переключатель
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ) и может быть использовано для коммутации СВЧ сигналов в фидерных трактах различного назначения, в частности при создании переключателя фидерных трактов. Достигаемый технический результат - увеличение надежности, увеличение развязки при улучшении технологичности и уменьшении стоимости. Контактный СВЧ переключатель содержит входной и выходн...
2509395![Сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов Сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bd78d4d3175db58810be193f5eba0a6f.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов
Устройство предназначено для проведения зондовых измерений на объектах, имеющих сложную форму, например на трубах в нефтяной и атомной отраслях промышленности. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп для исследования крупногабаритных объектов, включающий измерительную головку с пьезосканером и зондом, сопряженными с блоком анализа и управления, модуль сближен...
2515731![Нанотехнологический комплекс Нанотехнологический комплекс](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1910a09ac9d6ba7835baad9356db6a50.jpg)
Нанотехнологический комплекс
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства и измерения новых изделий наноэлектроники. Нанотехнологический комплекс включает робот-раздатчик с возможностью осевого вращения, сопряженный с камерой загрузки образцов и модулем локального воздействия, а также измерительный модуль, включающий сканирующий зондовый микроскоп, аналитическу...
2522776![Механический свч переключатель Механический свч переключатель](https://img.patentdb.ru/i/200x200/40f6539adbab18c4ba49955523ea7f5d.jpg)
Механический свч переключатель
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот (СВЧ) и может быть использовано для коммутации СВЧ-сигналов в фидерных трактах различного назначения, в частности при создании переключателя фидерных трактов. Технические результаты заключаются в увеличениях надежности и рабочей мощности при улучшении технологичности, уменьшении стоимости, а также в увеличении развязки. Для этого в механическом...
2525110![Нанотехнологический комплекс на основе ионных и зондовых технологий Нанотехнологический комплекс на основе ионных и зондовых технологий](/img/empty.gif)
Нанотехнологический комплекс на основе ионных и зондовых технологий
Использование: для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. Сущность изобретения заключается в том, что в нанотехнологический комплекс на основе ионных и зондовых технологий, включающий распределительную камеру со средствами откачки, в которой расположен центральный робот распределитель с возможностью осевого вращения, содержащий захват носителей подложек, при этом распредели...
2528746![Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика](https://img.patentdb.ru/i/200x200/849dd1a76a48e7b97c7afc6317cbe3c2.jpg)
Сканирующий зондовый микроскоп с устройством для функционирования многозондового датчика
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Микроскоп с устройством включает платформу (1), держатель образца (2) с образцом (3), установленные на сканирующем устройстве (4), сопряженном с платформой (1), блок сближения (5), систему регистрации (6), состоящую из источника излучения (7) и фотоприемника (8), многозондовый датчик контурного типа (9), содержащий основание (10)...
2538412