Ануфриев Дмитрий Леонидович (RU)

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения в партии потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Сущность: измеряют интенсивность шума без подачи питания на частоте 1 кГц при прямом токе при трех температурах: нормальной (25°С), минимальной (0°С) и максимальной (100°С) температуре. По относительному изменению интенсивности шума по выводам "...

Использование: обеспечение качества и надежности полупроводниковых изделий как на этапе производства, так и на этапе применения. Сущность: на партии полупроводниковых изделий измеряют интенсивность шума на двух частотах 1000 Гц и 200 Гц при трех разных температурах (0°С, нормальной и 100°С). Вычисляют показатель формы спектра шума γ по формулегде , и - квадрат эффективног...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности полупроводниковых приборов. Сущность: измеряют интенсивность низкочастотного шума по выводам сток-исток при закороченных выводах исток-подложка в режиме прямого рабочего тока стокового перехода от внешнего маломощного источника при двух значениях тока. Определяют параметр низкочастотного шума α, использ...

Использование: для оценки качества и надежности полупроводниковых изделий на этапе производства и на этапе применения. Сущность: на партии полупроводниковых изделий измеряют интенсивность низкочастотного шума на двух частотах при номинальном значении напряжения питания и одинаковом значении ширины полосы измерения шума. Вычисляют коэффициент , где и - квадрат эффективного значения шума соответс...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения потенциально ненадежных аналоговых интегральных схем (ИС) в процессе производства, а также при изготовлении радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: на ИС типа операционных усилителей, выполненных по технологии КМОП, включенных по схеме повторителя с заземленным неинвертирующим входом, измеряют среднеквадратичное напряжение шу...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам разделения партии интегральных схем (ИС) на надежные и потенциально ненадежные схемы. Изобретение может быть использовано на выходном контроле у изготовителей, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность: у интегральных схем измеряют интенсивность шума по выводам питание-общая точка до и после воздействия элек...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способу повышения надежности партий полупроводниковых изделий (ППИ) в процессе серийного производства. Сущность: проводят электротермотренировки (ЭТТ) партии ППИ в электрическом и температурном режимах, установленных в технических условиях и технологических картах. После извлечения ППИ из стенда начинают проверку электрических параметров ППИ при...