PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Егоров Андрей Николаевич (RU)

Изобретатель Егоров Андрей Николаевич (RU) является автором следующих патентов:

Усилитель мощности с защитой

Усилитель мощности с защитой

Изобретение относится к радиотехнике для использования в транзисторных усилительных устройствах. Технический результат заключается в повышении КПД и защите от протекания сквозных токов в оконечном каскаде в режиме ограничения выходного сигнала. Усилитель содержит два идентичных канала усиления 1, 2, состоящих каждый из входного 3, промежуточного 4, предоконечного 5 и оконечного 6 каскадов, цепей о...

2286004

Способ разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства по уровню бессбойной работы

Способ разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства по уровню бессбойной работы

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства (ОЗУ) по уровню бессбойной работы (УБР). Технический результат: возможность имитировать импульсное ионизирующее излучение (ИИИ), проводить разбраковку микросхем ОЗУ по параметру «уровень бессбойной работы» в процессе изготовления и определять реальный УБР...

2371731

Асфальтобетонная смесь

Асфальтобетонная смесь

Изобретение относится к производству дорожно-строительных материалов, а именно к составам смесей для асфальтобетона, и может быть использовано при устройстве верхних слоев покрытий городских и проселочных дорог. Технический результат: повышение качества асфальтобетонных смесей и утилизация «вредных» отходов производства. Асфальтобетонная смесь содержит битум дорожный, минеральный порошок и наполн...

2403217

Способ расчетно-экспериментальной оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении

Способ расчетно-экспериментальной оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении

Cпособ относится к области исследований радиационной стойкости изделий полупроводниковой электроники, в частности интегральных схем, к воздействию ионизирующих излучений. Способ оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении, включает сканирование кристалла микросхемы пучком лазерного излучения диаметром в преде...

2661556