Одинец А.И.

 Использование: изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу и может быть использовано для анализа различных материалов. Сущность: устройство содержит микрофотометр, механизм перемещения фотопластины, блок памяти спектра эталонов, блок управления, усилитель, фотоприемник, аналого-цифровой преобразователь, блок памяти спектра пробы, блок вычисления концентрации и регистратор....

  Использование: в эмиссионном спектральном анализе различных материалов. Сущность: в устройство введены последовательно соединенные датчик линейного перемещения, формирователь импульсов, счетчик и блок вычисления длины волны, выход которого подключен к третьему входу блока памяти спектра пробы и входу блока управления, четвертый выход которого соединен с вторым входом счетчика, первый вхо...

  Использование: эмиссионный спектральный анализ различных материалов. Сущность изобретения: устройство содержит микрофотометр, механизм перемешивания держателя фотопластины, блок памяти спектра эталонов, блок управления, усилитель, аналого-цифровой преобразователь, блок памяти спектра пробы, блок вычисления концентрации и регистратор. Для достижения цели введены счетчик, задатчик опорных...

 Способ определения массовых долей содержания элементов в материалах и сплавах включает возбуждение спектра излучения низкотемпературной плазмы (НТП), его фотографическую регистрацию, измерение почернений основной линии элемента в спектре излучения исследуемой пробы и почернения его линии сравнения. В процессе проведения анализа формируют базу данных, содержащую значения почернений линий э...

 Использование: изобретение относится к медицине и может быть использовано для стимуляции желудочно-кишечного тракта (ЖКТ). Сущность: устройство содержит генератор 1 импульсов, источник питания 2, электроды 3, представляющие собой две электрически изолированные части лекарственной капсулы 4, дополнительные электроды 5, размешенные на изолирующем основании 6, блок 7 управления, передатчик 8...

 Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу. В способе возбуждают излучение образца в низкотемпературной плазме, осуществляют фотографическую регистрацию эмиссионного спектра образца, измеряют почернения основной линии элемента S и линии сравнения Sср и расчитывают содержание искомого элемента в пробе Сх по системе уравнений. Технический результат - повышение точност...