PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Рыгалин Борис Николаевич (RU)

Изобретатель Рыгалин Борис Николаевич (RU) является автором следующих патентов:

Способ изготовления самосовмещенного бикмоп прибора

Способ изготовления самосовмещенного бикмоп прибора

Использование: микроэлектроника, технология изготовления самосовмещенных БиКМОП структур в составе ИМС. Сущность изобретения: в способе изготовления самосовмещенного БиКМОП прибора окна под все области биполярных и МОП транзисторов, а также изолирующих областей вскрывают одновременно в третьем, во втором диэлектрических слоях и первом слое поликристакллического кремния до первого диэлектрического...

2295800

Способ получения кристаллов кремния

Способ получения кристаллов кремния

Изобретение относится к технологии получения монокристаллов кремния способом Чохральского или мультикристаллов кремния методом направленной кристаллизации, которые в дальнейшем служат материалом для производства солнечных элементов и батарей (модулей) с улучшенными эксплуатационными характеристиками. Способ включает приготовление исходной шихты, легированной бором, и ее плавление, при этом в полу...

2473719

Способ изготовления самосовмещенного высоковольтного интегрального транзистора

Способ изготовления самосовмещенного высоковольтного интегрального транзистора

Использование: микроэлектроника, полупроводниковая электроника, самосовмещенный высоковольтный интегральный транзистор может быть использован в производстве интегральных микросхем. Сущность изобретения: у самосовмещенного, высоковольтного транзистора р-n переходы сформированы в объеме полупроводниковой подложки без выхода на поверхность, а контакты к областям транзистора, изолированные в вертика...

2492546

Самосовмещенный высоковольтный интегральный транзистор

Самосовмещенный высоковольтный интегральный транзистор

Изобретение относится к микроэлектронике. Сущность изобретения: самосовмещенный высоковольтный интегральный транзистор содержит коллекторную область, состоящую из сильно легированной области первого типа проводимости, расположенную над диэлектриком, сформированным в подложке, и слабо легированную область того же типа проводимости, расположенную над сильно легированной областью, в слабо легирован...

2492551

Способ изготовления межсоединений полупроводниковых приборов

Способ изготовления межсоединений полупроводниковых приборов

Использование: для изготовления многоуровневой системы межсоединений кремниевой интегральной схемы. Сущность изобретения заключается в том, что формируют в изолирующем слое кремниевой структуры, в которой выполнены полупроводниковые приборы, углубления под будущие проводники-межсоединения, формируют частицы нанометрового размера, выращивают наноматериал на указанных частицах нанометрового размер...

2593415


Способ изготовления межсоединений полупроводниковых приборов

Способ изготовления межсоединений полупроводниковых приборов

Использование: для изготовления многоуровневой системы межсоединений кремниевой интегральной схемы. Сущность изобретения заключается в том, что способ изготовления межсоединений полупроводниковых приборов, включающий формирование частиц нанометрового размера на поверхности, выращивание наноматериала на указанных частицах нанометрового размера, осаждение на подложку проводящего материала, формиро...

2593416