PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Смирнова Ольга Алексеевна (RU)

Изобретатель Смирнова Ольга Алексеевна (RU) является автором следующих патентов:

Двухспектральный дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды

Двухспектральный дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оперативного обнаружения разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах. Дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на водной поверхности включает зондирование исследуемой водной поверхности воды импульсным оптическим пучком на двух длинах волн, регистрацию излучения, отраженного от водной поверхн...

2298169

Дистанционный трехволновой способ измерения толщины тонких пленок

Дистанционный трехволновой способ измерения толщины тонких пленок

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения и контроля толщины тонких пленок нефтепродуктов в очистных сооружениях, на внутренних водоемах, акваториях портов и т.п. Дистанционный трехволновой способ измерения толщины тонких пленок на поверхности материала путем облучения поверхности оптическим излучением на трех длинах волн зондирования λ1, �...

2304759

Двухугловой дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды

Двухугловой дистанционный способ обнаружения нефтяных загрязнений на поверхности воды

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оперативного обнаружения разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах. Способ заключается в облучении поверхности и приеме отраженного сигнала, которые осуществляют для двух углов. В качестве параметров отраженного излучения выбирают мощности сигналов, полученных при облучении поверхности вертикально вниз...

2347210

Дистанционный четырехволновый способ измерения толщины тонких пленок

Дистанционный четырехволновый способ измерения толщины тонких пленок

Дистанционный способ измерения толщины тонких пленок на поверхности материала заключается в облучении поверхности материала оптическим излучением на длинах волн зондирования λ1, λ2, λ3, λ4, регистрации отраженного от поверхности сигнала и определении толщины пленки d по результатам анализа зависимости интенсивности отраженного сигнала на длинах волн зондирования λ1, λ2, λ3, λ4, причем длины волн...

2359220