Ермишкин Вячеслав Александрович (RU)
Изобретатель Ермишкин Вячеслав Александрович (RU) является автором следующих патентов:
Способ дифференциального дилатометрического экспресс-анализа образцов исследуемых материалов в контрастных структурных состояниях
Изобретение относится к измерительной технике. Способ дифференциального дилатометрического экспресс-анализа образцов исследуемых материалов в контрастных структурных состояниях включает получение температурных зависимостей коэффициентов температурного линейного расширения (КТЛР) для двух образцов исследуемого сплава, один из которых - эталонный находится в стабильно-структурном состоянии, а другой...
2300758Способ фотометрической диагностики структурного состояния материалов по данным анализа цифрового кодированного изображения их поверхности
Изобретение относится к способам неразрушающего контроля и диагностики технического состояния объектов из конденсированных материалов по данным фотометрического анализа структурных изображений (ФАСИ) их поверхности, зафиксированных в цифровом коде и анализируемых на персональном компьютере. Способ заключается в том, что фиксируют цифровые кодированные изображения фрагментов поверхности материала...
2387974Способ фотометрической диагностики фазовых превращений в твердых телах по данным анализа спектров яркости отражения света от их поверхности
Изобретение относится к способам определения физических условий, при которых в металлах и сплавах происходят фазовые превращения. Способ основан на совместном анализе изображения фрагментов поверхности исследуемого материала и спектров яркости отражения от них видимого света, отснятых до и после внешнего физического воздействия, вызывающего фазовый переход. Обработка результатов исследования прои...
2387978