Концевой Юлий Абрамович (RU)
Изобретатель Концевой Юлий Абрамович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ изготовления полупроводниковых приборов Способ изготовления полупроводниковых приборов](/img/empty.gif)
Способ изготовления полупроводниковых приборов
Изобретение относится к области производства полупроводниковых кремниевых приборов. Сущность изобретения: способ изготовления полупроводниковых приборов на кремниевых пластинах с кристаллографической ориентацией {100} характеризуется созданием на одной из сторон кремниевой пластины областей с элементами топологии полупроводниковых приборов и разделением пластины на кристаллы. Дополнительно перед р...
2302684![Электронно-чувствительная матрица с переносом заряда для электронно-оптических преобразователей (варианты) Электронно-чувствительная матрица с переносом заряда для электронно-оптических преобразователей (варианты)](https://img.patentdb.ru/i/200x200/da5091532a4d0c3773ef61508d752282.jpg)
Электронно-чувствительная матрица с переносом заряда для электронно-оптических преобразователей (варианты)
Изобретение относится к области производства электронно-оптических приборов, а именно к области производства электронно-чувствительных матриц для электронно-оптических преобразователей (ЭОП), и может быть использовано при изготовлении указанных преобразователей. Технический результат заключается в создании конструкции ЭЧПЗС-матрицы, которая обеспечивает работоспособность ЭОП при таком расположении...
2324256![Способ соединения двух твердотельных образцов Способ соединения двух твердотельных образцов](/img/empty.gif)
Способ соединения двух твердотельных образцов
Изобретение может быть использовано для соединения несмачиваемых припоем диэлектрических материалов, а именно полупроводниковых пластин с диэлектрическими слоями. Проводят предварительное напыление на соединяемые поверхности, по меньшей мере, двух слоев металла или сплава, образующих припой. Каждый последующий слой имеет температуру плавления ниже температуры плавления предыдущего слоя. В качестве...
2342231![Фотопреобразователь Фотопреобразователь](/img/empty.gif)
Фотопреобразователь
Фотопреобразователь содержит диэлектрическую подложку, включенные последовательно слои монокристаллического кремния, с участками различного типа проводимости. Слои монокристаллического кремния толщиной 5-15 мкм расположены планарно на диэлектрической подложке и изолированы друг от друга. Участки одного типа проводимости каждого слоя монокристаллического кремния соединены с участками противоположно...
2345445![Фотопреобразователь Фотопреобразователь](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b51946efe52029adcc59b76ee0484509.jpg)
Фотопреобразователь
Изобретение относится к области производства твердотельных фоточувствительных полупроводниковых приборов, а именно к области производства преобразователей мощности света в электрический ток, и может быть использовано при изготовлении указанных приборов. Фотопреобразователь содержит подложку с областями р- и n-типа проводимости, образующими р-n-переход, и соединенные с р-n-переходом полосковые ом...
2359361![Твердотельная матрица вакуумных фотоэлектрических преобразователей электромагнитного излучения Твердотельная матрица вакуумных фотоэлектрических преобразователей электромагнитного излучения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e85cb1c323907ec0d2cdcb3f41487c0c.jpg)
Твердотельная матрица вакуумных фотоэлектрических преобразователей электромагнитного излучения
Изобретение относится к области производства вакуумных фотоэлектрических преобразователей (ФЭП) электромагнитного излучения, а именно - к области производства твердотельных матриц для ФЭП, и может быть использовано при изготовлении указанных матриц. Твердотельная матрица содержит совокупность ячеек, поверхность которых покрыта резистивным слоем, причем резистивный слой выполнен из пленки линейно...
2366031![Способ определения толщины металлических пленок Способ определения толщины металлических пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d5f6846bdb4e7c54537d62d540dfcb4e.jpg)
Способ определения толщины металлических пленок
Изобретение относится к измерительной технике. Способ контроля состава материала при формировании структуры заключается в том, что в процессе формирования слоя осуществляют измерение эллипсометрических параметров Δ и ψ. Предварительно определяют эллипсометрическим методом с использованием лазерного эллипсометра с длиной волны 0,6328 мкм показатель преломления прозрачной подложки n1 с обратной ма...
2558645