Сошников Александр Игоревич (RU)

Изобретение относится к технике контроля материалов и изделий и может быть использовано при наноиндентировании, или в сканирующем зондовом микроскопе, для измерения электрических свойств поверхности материала с нанометровым разрешением. Зондовое устройство для измерения электрических параметров материалов содержит основание и электропроводящий зонд с заостренной контактирующей зоной, выполненный и...