PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Попов Николай Александрович (RU)

Изобретатель Попов Николай Александрович (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для уборки семенников бобовых трав

Устройство для уборки семенников бобовых трав

Изобретение относится к сельскому хозяйству, а именно к уборке семенников бобовых трав. Устройство для уборки семенников бобовых трав содержит энергосредство, жатку, включающую корпус, режущий аппарат, мотовило, транспортер для подачи и укладки массы в валок. Также устройство дополнительно содержит штангу с распылителями, установленную сбоку в верхней части корпуса жатки, емкость для воды, насос и...

2316169

Способ определения толщины тонкой прозрачной пленки

Способ определения толщины тонкой прозрачной пленки

Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. Способ заключается в измерении эллипсометрических параметров Δ и Ψ с последующим фиксированием результатов измерения в плоскости в виде кривой, при этом у предварительно спрессованного металлического порошка определяют эллипсометрические парам...

2463554

Способ определения показателя преломления оптически прозрачного материала

Способ определения показателя преломления оптически прозрачного материала

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения показателя преломления оптически прозрачных материалов. Предлагается способ определения показателя преломления оптически прозрачного материала путем измерения эллипсометрических параметров Δ и ψ с последующим их расчетом. При этом предваритель...

2629695

Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов

Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов

Изобретение относится к способам оптико-физических измерений. Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов включает измерения эллипсометрических параметров и пленки соответствующего металла или его сплава, предварительно нанесенной путем вакуумного напыления на подложку с последующим расчетом значений констант. Причем пленку толщиной 0,5-0,6 мкм нанося...

2659873