PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Рыжова Татьяна Александровна (RU)

Изобретатель Рыжова Татьяна Александровна (RU) является автором следующих патентов:

Плазмонный спектрометр терагерцового диапазона для исследования проводящей поверхности

Плазмонный спектрометр терагерцового диапазона для исследования проводящей поверхности

Изобретение относится к спектрометрии. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник монохроматического излучения с отличной от нуля р-составляющей, а также регулируемый поглотитель излучения реперного пучка. Исследуемая поверхность образца выполнена двухгранной, причем элемент преобразования объемного излучения в поверхностный плазмон (ПП) размещен на одной, а элемент преобразования ПП...

2318192

Неохлаждаемый металлический болометр

Неохлаждаемый металлический болометр

Изобретение относится к тепловым фотоприемникам для обнаружения монохроматического излучения дальнего инфракрасного (ИК) диапазона и определения угла прихода этого излучения. Разработка может найти применение в спектрометрических и астрономических приборах, в спецтехнике и в средствах связи. Металлический болометр содержит непрозрачную металлическую пленку на оптической теплоизолирующей подложке,...

2325729

Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона

Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона

Изобретение относится к измерительной технике. В устройстве, содержащем источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей поверхностные электромагнитные волны (ПЭВ), элемент преобразования объемного излучения в ПЭВ и фотодетектор, образец выполнен в виде двух частей, имеющих лежащие в одной плоскости сопряженные поверхности и прилегающих друг к другу боковы...

2380665

Устройство для обнаружения неоднородностей на плоских гранях потока однотипных проводящих изделий в инфракрасном излучении

Устройство для обнаружения неоднородностей на плоских гранях потока однотипных проводящих изделий в инфракрасном излучении

Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхности металлов и полупроводников, а именно к инфракрасной (ИК) амплитудной рефлектометрии. Устройство содержит источник p-поляризованного монохроматического излучения, два элемента преобразования излучения в ПЭВ, приемник излучения, размещенный в окружающей среде в плоскости падения, и измерительный прибор, регистрирующий поступающ...

2614660