PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Эйдельман Борис Львович (RU)

Изобретатель Эйдельман Борис Львович (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках

Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках

Предложенное изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области измерений электрофизических параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения высокой частоты, и может быть использовано для определения времени жизни неосновных носителей заряда в кремниевых пластинах и слитках. Целью изобретения является повышение точности и наде...

2318218

Симулятор солнечного излучения для измерения параметров солнечных элементов

Симулятор солнечного излучения для измерения параметров солнечных элементов

Предложенное изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области измерений электрофизических параметров солнечных элементов на основе применения устройств, позволяющих имитировать реальное солнечное излучение искусственными источниками света. Целью изобретения является повышение точности и надежности измерения вольтамперных характеристик солнечных элементов. Предложенный симу...

2318219

Линейный концентратор светового излучения

Линейный концентратор светового излучения

Изобретение относится к области солнечной энергетики, более конкретно - к области создания солнечных фотоэлектрических модулей с концентраторами солнечного излучения, и может быть применено в наземных солнечных энергоустановках, предназначенных для систем автономного энергоснабжения в различных климатических зонах. Линейный концентратор светового излучения представляет собой протяженные фрагмент...

2353865

Концентраторный фотоэлектрический модуль

Концентраторный фотоэлектрический модуль

Изобретение может быть применено в наземных солнечных энергоустановках на основе линейных концентраторов солнечного излучения, предназначенных для систем автономного энергоснабжения в различных климатических зонах. Предложенный концентраторный фотоэлектрический модуль представляет собой герметизируемый объем, содержащий линейные линзы Френеля, цепочку фотоприемников и полые трубки, соединяющие г...

2377696

Конструкция фотоэлектрического модуля

Конструкция фотоэлектрического модуля

Настоящее изобретение может быть применено в наземных и космических солнечных энергоустановках на основе кремниевых фотоэлектрических преобразователей (ФЭП) солнечного излучения, предназначенных для систем автономного энергоснабжения. Конструкция фотоэлектрического модуля включает нижнее защитное покрытие, на котором с помощью скрепляющей полимерной пленки закреплены кремниевые солнечные элементы...

2410796


Гибкий фотоэлектрический модуль

Гибкий фотоэлектрический модуль

Изобретение относится к области солнечной энергетики, в частности к гибким фотоэлектрическим модулям, которые, помимо основной функции - генерации фототоэлектричества, могут использоваться в качестве элементов промышленного и строительного дизайна, подвергающихся упругой деформации в продольном и/или поперечном направлении - кручению или изгибу. Гибкий фотоэлектрический модуль представляет собой...

2493633

Гибкий фотоэлектрический модуль

Гибкий фотоэлектрический модуль

Изобретение относится к области солнечной энергетики, в частности к гибким фотоэлектрическим модулям, которые могут быть использованы в качестве источников электричества в системах энергообеспечения различных объектов - автомобилей, катеров, яхт, пунктов метеонаблюдения, телекоммуникационных систем, информационных стендов. Гибкий фотоэлектрический модуль включает последовательно расположенные ни...

2495513

Способ контроля дефектности эпитаксиальных слоев кремния на диэлектрических подложках

Способ контроля дефектности эпитаксиальных слоев кремния на диэлектрических подложках

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к неразрушающим методам контроля структурного совершенства эпитаксиальных слоев кремния, выращенных на диэлектрических подложках, и может быть использовано в технологии микроэлектроники для контроля качества эпитаксиальных слоев кремния в структурах «кремний на сапфире» (КНС). Изобретение обеспечивает высокую производительность изме...

2515415