КОБАЯСИ Дай (JP)

Изобретение относится к конструкции зонда для сканирующего зондового микроскопа. Предусмотрены зонд для сканирующего зондового микроскопа и способ изготовления зонда, которые могут выполнять точные измерения без контактирования основания кантилевера с измеряемым объектом и без скрывания объекта основанием зонда. Зонд для сканирующего зондового микроскопа включает основание, опорный кантилевер, гор...

Изобретение применимо к сканирующему зондовому микроскопу, измерителю колебаний, анализатору поверхностей и граничных поверхностей электрической схемы, детектору массы, сети электронных схем, фильтру для захвата вещества, а также к измерениям температуры, распределению температуры в электронных устройствах и распределению температуры и метаболизма в биологических материалах. Техническим результато...