Кузин Александр Юрьевич (RU)
Изобретатель Кузин Александр Юрьевич (RU) является автором следующих патентов:
![Способ адаптивного измерения угловых координат Способ адаптивного измерения угловых координат](https://img.patentdb.ru/i/200x200/99b02ea95db0db699eec17404dab8574.jpg)
Способ адаптивного измерения угловых координат
Изобретение относится к области радиотехники. Техническим результатом является повышение точности измерения угловых координат в условиях воздействия совокупности дестабилизирующих факторов. Способ адаптивного измерения угловых координат объекта наблюдения основан на зондировании данного углового направления, при котором угловые координаты объекта наблюдения определяют по пеленгационной характерист...
2331902![Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0125d0aaf1d9c0637dfed7eee4b310e0.jpg)
Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки
Изобретение относится к радиолокационным измерениям и может быть использовано для контроля характеристик диаграммы направленности (ДН) фазированной антенной решетки (ФАР) с дискретным управлением фазами токов возбуждения излучателей с помощью р-разрядных полупроводниковых фазовращателей. Техническим результатом является повышение достоверности контроля характеристик ДН фазированной решетки. Сущнос...
2333502![Способ управления амплитудно-фазовым распределением на раскрыве фазированной антенной решетки Способ управления амплитудно-фазовым распределением на раскрыве фазированной антенной решетки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/abed958a74de45c41a8759674b87b595.jpg)
Способ управления амплитудно-фазовым распределением на раскрыве фазированной антенной решетки
Изобретение может быть использовано при управлении амплитудно-фазовым распределением (АФР) на раскрыве фазированной антенной решетки (ФАР) с дискретным управлением фазами токов возбуждения излучателей с помощью р-разрядных полупроводниковых фазовращателей. Техническим результатом является расширение области применения. Сущность изобретения состоит в том, что при управлении амплитудно-фазовым распр...
2333578![Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2073c0dafae9dfdc7f00a024b77fa8b4.jpg)
Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов
Изобретение относится к области калибровки просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ) при измерениях в нано- и субнанометровом диапазонах. Тестовый объект выполнен в виде держателя образцов с несколькими местами крепления исследуемых объектов, в одном из которых расположена эталонная структура, выполненная в виде тонкого поперечного среза кремниевой структуры с периодической рельефной поверхно...
2503080![Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/293d2040ac615e45b6da5e0ce44fa49a.jpg)
Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого объекта. Сущность изобретения: исследуемая кремниевая структура предварительно подвергается плазменной обработке при помощи высокочастотного разряда пониженного давлени...
2622896