PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Кузин Александр Юрьевич (RU)

Изобретатель Кузин Александр Юрьевич (RU) является автором следующих патентов:

Способ адаптивного измерения угловых координат

Способ адаптивного измерения угловых координат

Изобретение относится к области радиотехники. Техническим результатом является повышение точности измерения угловых координат в условиях воздействия совокупности дестабилизирующих факторов. Способ адаптивного измерения угловых координат объекта наблюдения основан на зондировании данного углового направления, при котором угловые координаты объекта наблюдения определяют по пеленгационной характерист...

2331902

Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки

Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки

Изобретение относится к радиолокационным измерениям и может быть использовано для контроля характеристик диаграммы направленности (ДН) фазированной антенной решетки (ФАР) с дискретным управлением фазами токов возбуждения излучателей с помощью р-разрядных полупроводниковых фазовращателей. Техническим результатом является повышение достоверности контроля характеристик ДН фазированной решетки. Сущнос...

2333502

Способ управления амплитудно-фазовым распределением на раскрыве фазированной антенной решетки

Способ управления амплитудно-фазовым распределением на раскрыве фазированной антенной решетки

Изобретение может быть использовано при управлении амплитудно-фазовым распределением (АФР) на раскрыве фазированной антенной решетки (ФАР) с дискретным управлением фазами токов возбуждения излучателей с помощью р-разрядных полупроводниковых фазовращателей. Техническим результатом является расширение области применения. Сущность изобретения состоит в том, что при управлении амплитудно-фазовым распр...

2333578

Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к области калибровки просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ) при измерениях в нано- и субнанометровом диапазонах. Тестовый объект выполнен в виде держателя образцов с несколькими местами крепления исследуемых объектов, в одном из которых расположена эталонная структура, выполненная в виде тонкого поперечного среза кремниевой структуры с периодической рельефной поверхно...

2503080

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур

Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого объекта. Сущность изобретения: исследуемая кремниевая структура предварительно подвергается плазменной обработке при помощи высокочастотного разряда пониженного давлени...

2622896