ХАНСКУИН Дэвид В. (US)

Изобретение относится к архитектурам встроенного самотестирования для использования в электронных устройствах. Техническим результатом является тестирование множества распределенных модулей запоминающего устройства, имеющих различные требования распределения во времени и различные физические характеристики. Архитектура встроенного самотестирования (BIST) имеет распределенное интерпретирование алго...

Изобретение относится к области осуществления связи между ведущими и подчиненными устройствами с использованием шинного интерфейса. Техническим результатом является обеспечение совместимости между существующими последовательными шинными интерфейсами и однопроводным шинным интерфейсом. Согласно одному аспекту выход или выходы трехпроводного интерфейса выбирают в первом режиме, а выход одного или...