Урлапов Олег Владимирович (RU)
Изобретатель Урлапов Олег Владимирович (RU) является автором следующих патентов:
Устройство для преобразования параметров датчиков индуктивного типа
Изобретение может быть использовано в системах контроля технологических процессов, осуществляющих измерения механических и магнитных величин с помощью датчиков индуктивного типа. В устройстве для преобразования параметров датчиков индуктивного типа первый выход блока формирования импульсов (1) подключен к измерительному и опорному плечам устройства, в которых последовательно соединены усилитель то...
2339047Цифровой преобразователь параметров датчиков индуктивного типа
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах контроля технологических процессов. Цифровой преобразователь параметров датчиков индуктивного типа включает в себя блок формирования импульсов, выход которого подключен к входам усилителей тока измерительного и опорного плеч устройства, а выходы усилителей подключены к LC-контурам чувствительных элементов измерител...
2421741Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем
Изобретение предназначено для использования на выходном и входном контроле качества цифровых КМОП интегральных микросхем и оценки их температурных запасов. Сущность: на входы одного или нескольких логических элементов контролируемой микросхемы подают последовательность высокочастотных переключающих греющих импульсов частотой Fгр, модулированных последовательностью прямоугольных видеоимпульсов с...
2504793Приемник оптических излучений
Предлагаемое изобретение относится к области радиотехники и связи и может использоваться в оптических системах передачи информации, датчиках оптических излучений малой интенсивности, измерителях оптических сигналов в физике высоких энергий и т.п. Технический результат - повышение быстродействия при работе с датчиками излучений в виде фотодиодов, имеющими значительную паразитную емкость. Приемник...
2516007Способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров
Способ предназначен для использования на выходном и входном контроле качества сверхбольших интегральных схем (СБИС) - микропроцессоров и микроконтроллеров - и оценки их температурных запасов. В контролируемую СБИС, установленную на теплоотводе и подключенную к источнику питания, загружают специальный «разогревающий» тест и программу управления и включают в режим периодического нагрева путем пере...
2521789