Прудков Виктор Викторович (RU)
Изобретатель Прудков Виктор Викторович (RU) является автором следующих патентов:
![Силовой ключ на мдп-транзисторе Силовой ключ на мдп-транзисторе](/img/empty.gif)
Силовой ключ на мдп-транзисторе
Предлагаемое изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Целью настоящего изобретения является повышение надежности и уменьшение габаритов. Технический результат достигается тем, что силовой ключ на МДП-транзисторе, содержащий резистор, транзисторы одинаковой проводимости, базоэмиттерные переходы которых зашунтированы диод...
2340085![Силовой ключ на мдп-транзисторе Силовой ключ на мдп-транзисторе](/img/empty.gif)
Силовой ключ на мдп-транзисторе
Изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Технический результат заключается в повышении надежности. В устройство введены два тиристора, которые включены встречно-параллельно между началом вторичной обмотки и затвором МДП-транзистора. Управляющий электрод тиристора, катод которого соединен с началом вторичной обмотки, чер...
2344542![Силовой ключ на мдп-транзисторе Силовой ключ на мдп-транзисторе](/img/empty.gif)
Силовой ключ на мдп-транзисторе
Изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Техническим результатом является повышение надежности при работе на емкостную нагрузку. В силовой ключ на МДП-транзисторе, содержащий трансформатор, транзисторы одинаковой проводимости, коллекторно-эмиттерные переходы которых зашунтированы диодами в запирающем направлении, а пер...
2396706![Способ построения вычислительного процесса испытаний аппаратуры Способ построения вычислительного процесса испытаний аппаратуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/361aa406511a0ba1aec1c9e98e9e42da.jpg)
Способ построения вычислительного процесса испытаний аппаратуры
Изобретение относится к способу организации вычислительного процесса испытаний электронных устройств, имеющих в своем составе вычислительный модуль. Техническим результатом является минимизация времени проведения испытаний и трудозатрат, упрощение процедур управления, контроля, анализа и обработки информации в ходе испытаний. При тестировании электронных устройств формируют диагностические тесты...
2480807