PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Прудков Виктор Викторович (RU)

Изобретатель Прудков Виктор Викторович (RU) является автором следующих патентов:

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Предлагаемое изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Целью настоящего изобретения является повышение надежности и уменьшение габаритов. Технический результат достигается тем, что силовой ключ на МДП-транзисторе, содержащий резистор, транзисторы одинаковой проводимости, базоэмиттерные переходы которых зашунтированы диод...

2340085

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Технический результат заключается в повышении надежности. В устройство введены два тиристора, которые включены встречно-параллельно между началом вторичной обмотки и затвором МДП-транзистора. Управляющий электрод тиристора, катод которого соединен с началом вторичной обмотки, чер...

2344542

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Силовой ключ на мдп-транзисторе

Изобретение относится к импульсной технике и может быть применено в различных бесконтактных коммутационных устройствах. Техническим результатом является повышение надежности при работе на емкостную нагрузку. В силовой ключ на МДП-транзисторе, содержащий трансформатор, транзисторы одинаковой проводимости, коллекторно-эмиттерные переходы которых зашунтированы диодами в запирающем направлении, а пер...

2396706

Способ построения вычислительного процесса испытаний аппаратуры

Способ построения вычислительного процесса испытаний аппаратуры

Изобретение относится к способу организации вычислительного процесса испытаний электронных устройств, имеющих в своем составе вычислительный модуль. Техническим результатом является минимизация времени проведения испытаний и трудозатрат, упрощение процедур управления, контроля, анализа и обработки информации в ходе испытаний. При тестировании электронных устройств формируют диагностические тесты...

2480807