PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Сашов Александр Анатольевич (RU)

Изобретатель Сашов Александр Анатольевич (RU) является автором следующих патентов:

Способ термоэлектрического контроля паяного соединения и устройство для его осуществления

Способ термоэлектрического контроля паяного соединения и устройство для его осуществления

Изобретение относится к контрольно-проверочной аппаратуре. Сущность: определяют значение термоЭДС в месте пайки, время воздействия источником тепла на зону пайки, время затвердевания припоя и значение термоЭДС в момент начала затвердевания припоя с последующим вычислением методом последовательного анализа среднестатистических значений величин, определяемых в результате серии экспериментов. Качеств...

2347232

Способ диагностического неразрушающего контроля (днк) программируемых логических интегральных схем иностранного производства (плис ип)

Способ диагностического неразрушающего контроля (днк) программируемых логических интегральных схем иностранного производства (плис ип)

Изобретение относится к области вычислительной и контрольно-измерительной техники и может быть использовано для контроля программируемых логических интегральных схем, в частности, иностранного производства. Способ диагностического неразрушающего контроля программируемых логических интегральных схем иностранного производства (ПЛИС ИП) включает следующие этапы: измеряют потребления тока ПЛИС ИП в р...

2397504

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники. Техническим результатом является осуществление полного функционального контроля микросхем большой емкости, возможность проверки нескольких ОЗУ одновременно, сокращение времени испытаний, а также удешевление самой ко...

2438164

Система для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки цифровых интегральных схем (ис) и сверхбольших интегральных схем (сбис)

Система для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки цифровых интегральных схем (ис) и сверхбольших интегральных схем (сбис)

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки корпусированных цифровых интегральных схем. Устройство состоит из приборной стойки для размещения испытательного оборудования; тестера для осуществления контроля за основными параметрами испытуемых ИС и СБИС и контроля функционирования; сетевого концентратора...

2485529