Панченко Ю.Н.

 Изобретение относится к области квантовой электроники и может быть использовано при разработке и создании эксимерных лазеров с малой расходимостью и узкой шириной спектральной линии. Сущность: в способе получения узкополосного излучения с малой расходимостью в эксимерном лазере, включающем возбуждение активной среды, расположенной в оптическом резонаторе, содержащем выходное полупрозрачно...

 Качество сварных соединений во многом определяется шириной сварного шва и наличием дефектов. Определение этих параметров на сварных швах твэлов и пэлов проводится ультразвуковым (УЗ) способом, при котором УЗ пучком сканируют поперек сварного шва, регистрируют эхо-сигнал и координаты, обрабатывают данные на компьютере и получают УЗ изображения проекции сварного шва, один край сварного шва...

 Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии изделий и материалов и может быть использовано в различных отраслях промышленности для определения качества продукции при контроле. Повышение скорости контроля размеров дефектов и упрощение способа контроля достигается за счет того, что сканируют ультразвуковым преобразователем по профилю изделия, регистрируют амплитуды и координаты эхо...