Уханов Ю.И.

 Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла. Способ основан на зондировании скин-слоя материала токами различных частот. Для каждого значения частоты пе...