КИМ Джин Хон (KR)

Способ измерения толщины одного или более слоев оптического диска, включающего разделительный слой и покровный слой, путем использования эффекта интерференции слоя оптического диска, содержит операции: определения силы отраженного света в соответствии с множеством длин волн в качестве спектральных данных; преобразования полученных спектральных данных для каждой длины волны в спектральные значени...