Чугреев Игорь Григорьевич (RU)

Лазерное устройство для измерения отклонений отдельных участков поверхностей объектов от референтного направления, содержащее последовательно установленные лазер, оптическое устройство формирования референтного лазерного пучка и светоделительные зеркала, расположенные вдоль трассы измерений, установленные под углом к референтному направлению и частично отражающие референтный лазерный пучок, отли...

Лазерное устройство для измерения непрямолинейности расположения искусственных и естественных объектов, которое содержит последовательно установленные лазер, устройство формирования референтного пучка и не менее двух фотоэлектрических марок, отличающееся тем, что фотоэлектрическая марка содержит зеркало, установленное под углом 45° к референтному направлению и частично отражающее референтный пуч...

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для получения мониторинговых и конкретных данных о пространственном положении различных объектов природного и искусственного происхождения, а также отклонений их поверхностей от прямолинейности. Техническим результатом изобретения является упрощение конструкции устройства и повышение точности измерений. Устройство для измере...

Изобретение относится к области измерительной техники оптического приборостроения и может быть использовано в геодезии, машиностроении, приборостроении и в других областях науки и техники, где возникает необходимость создания прецизионного эквидистантного линейного сканирования оптических лазерных пучков. Техническим результатом изобретения является повышение точности и расширение функциональных...

Изобретение относится к области геодезии, в частности к высокоточным измерениям для определения критических деформаций. Предложен способ высокоточных измерений инженерных объектов сканирующими лазерными системами (ЛИС) с применением программного обеспечения управления и обработки результатов по двум координатам в реальном масштабе времени и устройство для его осуществления. Сканирующий лазерный...