PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Шевченко Игорь Николаевич (RU)

Изобретатель Шевченко Игорь Николаевич (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для измерения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсника свч

Устройство для измерения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсника свч

Изобретение относится к области измерительной техники. В устройство для измерения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников СВЧ, содержащее генератор качающейся частоты, измерительный детектор, компьютер и панорамный индикатор, предлагается дополнительно ввести калибратор, управляемый аттенюатор, датчик температуры, переключатели и контроллер. При этом управляющий вход панорамного инд...

2364877

Способ определения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсника свч

Способ определения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсника свч

Способ измерения амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников СВЧ согласно изобретению позволяет корректировать нелинейную часть детекторной характеристики с помощью поправочных величин напряжений, зависящих от уровня мощности на входе измерительного детектора, до линейной. Вычисляют их как разность между построенными идеальной и реальной детекторными характеристиками этого детектора, пу...

2365927

Устройство для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Устройство для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Изобретение относится к области радиоизмерений и может быть использовано при измерении комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ. В устройство, содержащее двухчастотный синтезатор когерентных испытательных СВЧ-сигналов, испытуемый четырехполюсник СВЧ, первый и второй СВЧ-смесители, первый аналого-цифровой преобразователь и второй аналого-цифровой преобразователь, управ...

2377583

Способ аттестации амплитудно-фазовой погрешности устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Способ аттестации амплитудно-фазовой погрешности устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле метрологических характеристик СВЧ устройств. Технический результат - повышение точности измерений. Для достижения данного результата динамический диапазон амплитуд первого испытательного СВЧ сигнала делят на равные по величине динамические поддиапазоны. Измеряют комплексные коэффициенты усиления каждого из подди...

2377591

Способ аттестации собственных s-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Способ аттестации собственных s-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Изобретение относится к области радиоизмерений и может быть использовано при аттестации и контроле собственных S-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ. Техническим результатом является повышение точности измерений испытуемых четырехполюсников СВЧ. Для повышения точности измерений предлагается способ, заключающийся в том, что измер...

2482504