Согоян Армен Вагоевич (RU)

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД структурах, по радиационной стойкости. Технический результат - сокращение времени восстановления микросхем, проведение разбраковки по одному параметру, определение реальной стойкости каждой конкретной микросхемы к дозовому воздействию ионизирующего излучения. Сущнос...

Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для отбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД (кремний на диэлектрике) структурах, по радиационной стойкости. Способ отбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД структурах, по стойкости к радиационному воздействию заключается в поэтапном облучении микросхем малой дозой, выборе статического тока потребления в...