Ева Игорь Васильевич (RU)
Изобретатель Ева Игорь Васильевич (RU) является автором следующих патентов:
![Способ определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала и устройство для его осуществления Способ определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/73a719477fd3b67eeda2bbbf32dee048.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала и устройство для его осуществления
В способе определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала измеряют резонансные частоты на выходе диэлектрического резонатора в свободном пространстве и при расположении резонатора на фиксированном расстоянии с одной стороны от криволинейного слоя материала, определяют разность частот, по которой, с использованием калибровочной зависимости диэлектрической проницаемости от...
2365926![Устройство активного контроля и измерения действительных размеров наружной поверхности изделия типа оболочка вращения Устройство активного контроля и измерения действительных размеров наружной поверхности изделия типа оболочка вращения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/41df396901b1a809b869b1bdc890337e.jpg)
Устройство активного контроля и измерения действительных размеров наружной поверхности изделия типа оболочка вращения
Изобретение относится к области машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам активного контроля и измерения действительных размеров наружных поверхностей изделий типа оболочка вращения. Сущность: устройство содержит основание для установки изделия, на котором жестко закреплена балка, несущая модуль перемещения. В модуле перемещения размещено средс...
2420712