Толмачев И.И.

 Электромагнитный структуроскоп может быть использован для неразрушающего контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом при производстве и контроле качества покрытий. Повышена точность контроля физико-механических свойств проводящего неферромагнитного покрытия на изделиях переменной кривизны с необработанной поверхностью. Электромагнитный структуроскоп содержит вихретоко...