PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Горбатов Сергей Сергеевич (RU)

Изобретатель Горбатов Сергей Сергеевич (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для измерения параметров материалов

Устройство для измерения параметров материалов

Изобретение относится к области радиотехники и электроники и может быть использовано как самостоятельно для измерения электрофизических параметров материалов, так и в качестве более сложных функциональных устройств: комплексных измерительных систем, комплексных систем по производству и контролю параметров материалов, автоматизированных измерительных, производственных и производственно-измеритель...

2373545

Резонансное ближнеполевое устройство для свч микроскопа

Резонансное ближнеполевое устройство для свч микроскопа

Изобретение относится к области радиотехники и электроники и может быть использовано для измерения электрофизических параметров материалов. Устройство представляет собой прямоугольным волновод с подключенным к нему СВЧ генератором и измерительным устройство. Устройство содержит индуктивную диафрагму 2, установленную в волноводе 1 перпендикулярно широкой стенке волновода. На расстоянии Λ/10 (Λ - д...

2417379

Способ изготовления зонда для ближнеполевой сверхвысокочастотной микроскопии

Способ изготовления зонда для ближнеполевой сверхвысокочастотной микроскопии

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в ближнеполевой сканирующей СВЧ и оптической микроскопии. Способ изготовления стеклянного зонда с проводящей сердцевиной включает помещение в стеклянную трубку легкоплавкого металла или металлического сплава, температура плавления которого значительно меньше температуры размягчения стекла, из которого изготовлена стеклянная т...

2475761

Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов

Резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов

Изобретение относится к области радиотехники и электроники и может быть использовано для измерения электрофизических параметров материалов. Технический результат заключается в повышении разрешающей способности до порядка 1 микрометра, а также повышении чувствительности до уровня, достаточного для определения параметров материалов с диэлектрической проницаемостью в диапазоне 1.5÷400 и проводимос...

2529417