ЙОКОТА Тошихико (JP)

Изобретение относится к средствам тестирования взаимосвязанных больших интегральных микросхем (БИС) на уровне плат в реальных условиях эксплуатации. Техническим результатом является обеспечение тестирования на рабочей частоте на уровне плат без применения теста системного уровня, а также оценки данных, передаваемых по каждому каналу передачи. Микрокомпьютер (ASIC) включает множество ИС, которые...