Володин Иван Николаевич (RU)

Изобретение относится к области испытаний изделий электронной техники и может быть использовано для оценки качества и надежности изделий микро- и наноэлектроники, применяемых в аппаратуре с длительными сроками эксплуатации. Сущность изобретения: для определения потенциально нестабильных полупроводниковых изделий (ППИ) замеряют диагностические параметры изделий, воздействуют ионизирующим излучени...