Слепнев Вячеслав Михайлович (RU)

Изобретение относится к области исследования или анализа материалов радиационными методами с измерением вторичной эмиссии с использованием нейтронов, в частности, для неразрушающего дистанционного контроля различных скрытых веществ. Технический результат - создание портативного и компактного устройства для работы в полевых условиях, уменьшение минимально регистрируемой массы скрытого вещества, у...

Изобретение относится к области радиационных технологий, а также к исследованиям, созданию и эксплуатации ядерных установок и ускорителей. Способ измерения профиля нейтронного пучка (пучков) в плоскости, перпендикулярной выделенному его (их) направлению, заключается в том, что пучок (пучки) быстрых нейтронов направляют на детектирующую плоскость профилометра, перпендикулярно расположенную к его...