Шипилов Александр Валентинович (RU)
Изобретатель Шипилов Александр Валентинович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин](/img/empty.gif)
Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин
Использование: для радиографического контроля сварных соединений, наплавок и основного металла изделия. Сущность: заключается в том, что устанавливают на контролируемый объект фосфорную запоминающую пластину и проводят на нее просвечивание объекта при сниженном на 10-30% от применяемого при просвечивании на радиографическую пленку напряжении на рентгеновской трубке, обеспечивающем для пластины не...
2393463![Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания](/img/empty.gif)
Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания
Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равн...
2399908![Способ радиографирования изделий Способ радиографирования изделий](/img/empty.gif)
Способ радиографирования изделий
Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность: заключается в том, что осуществляют повторное рентгенопросвечивание участков сварного соединения, на первоначальных рентгеновских снимках которого были выявлены сомнительного происхождения полосы и пятна, с установленным на выходное окно рентгеновской трубки свинцовым фильтром, при этом устанавливают на контролируемых участках при п...
2437080![Способ определения глубины залегания дефекта Способ определения глубины залегания дефекта](/img/empty.gif)
Способ определения глубины залегания дефекта
Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при разл...
2437081![Способ оценки глубины залегания дефекта Способ оценки глубины залегания дефекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/08866ce43890a84baed352791b82d845.jpg)
Способ оценки глубины залегания дефекта
Использование: для оценки глубины залегания дефекта. Сущность: заключается в том, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глуби...
2438120