Шипилов Александр Валентинович (RU)
Изобретатель Шипилов Александр Валентинович (RU) является автором следующих патентов:

Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин
Использование: для радиографического контроля сварных соединений, наплавок и основного металла изделия. Сущность: заключается в том, что устанавливают на контролируемый объект фосфорную запоминающую пластину и проводят на нее просвечивание объекта при сниженном на 10-30% от применяемого при просвечивании на радиографическую пленку напряжении на рентгеновской трубке, обеспечивающем для пластины не...
2393463
Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания
Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равн...
2399908
Способ радиографирования изделий
Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность: заключается в том, что осуществляют повторное рентгенопросвечивание участков сварного соединения, на первоначальных рентгеновских снимках которого были выявлены сомнительного происхождения полосы и пятна, с установленным на выходное окно рентгеновской трубки свинцовым фильтром, при этом устанавливают на контролируемых участках при п...
2437080
Способ определения глубины залегания дефекта
Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при разл...
2437081
Способ оценки глубины залегания дефекта
Использование: для оценки глубины залегания дефекта. Сущность: заключается в том, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глуби...
2438120