Яфясов Адиль Маликович (RU)

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля профиля легирования в полупроводниках. Технический результат - повышение достоверности измерений и расширение диапазона глубин приповерхностного слоя образца, в которых определяется концентрация легирующей примеси. Достигается выбором рабочего диапазона электродных потенциалов: в анодной области - потенциал,...

Изобретение относится к нефтегазовой геологии, включая поисковую геохимию на нефть, газ и рудные, и может быть использовано при проведении геологоразведочных работ на нефть и газ для выявления в разрезах интервалов осадочных пород пластовых вод и нефти, обогащенных попутными ценными промышленно значимыми металлами, и их площадного распространения. Техническим результатом является комплексное иссле...