Краснов Михаил Игоревич (RU)

Изобретение относится к области вычислительной и контрольно-измерительной техники и может быть использовано для контроля программируемых логических интегральных схем, в частности, иностранного производства. Способ диагностического неразрушающего контроля программируемых логических интегральных схем иностранного производства (ПЛИС ИП) включает следующие этапы: измеряют потребления тока ПЛИС ИП в р...

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники. Техническим результатом является осуществление полного функционального контроля микросхем большой емкости, возможность проверки нескольких ОЗУ одновременно, сокращение времени испытаний, а также удешевление самой ко...

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки корпусированных цифровых интегральных схем. Устройство состоит из приборной стойки для размещения испытательного оборудования; тестера для осуществления контроля за основными параметрами испытуемых ИС и СБИС и контроля функционирования; сетевого концентратора...