PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Черняков Антон Евгеньевич (RU)

Изобретатель Черняков Антон Евгеньевич (RU) является автором следующих патентов:

Способ анализа квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора и система анализа, использующая его

Способ анализа квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора и система анализа, использующая его

Изобретение относится к измерительной технике. Способ включает в себя обеспечение изображения слоя полупроводника полупроводникового светоизлучающего прибора, преобразование этого изображения в двоичное изображение, получение размерности Реньи Dq для степени q в качестве параметра мультифрактального анализа двоичного изображения и определение размерности Реньи Dq в качестве критерия квантовой эфф...

2398311

Способ отбраковки мощных светодиодов на основе ingan/gan

Способ отбраковки мощных светодиодов на основе ingan/gan

Изобретение относится к полупроводниковой технике, а именно к способам отбраковки мощных светодиодов на основе InGaN/GaN, излучающих в видимом диапазоне длин волн. Способ отбраковки мощных светодиодов на основе InGaN/GaN включает проведение измерений при комнатной температуре в любой последовательности падений напряжения в прямом и обратном направлениях и плотностей тока на светодиодах, отбраков...

2541098

Способ определения температурного распределения по поверхности светодиода

Способ определения температурного распределения по поверхности светодиода

Изобретение относится к области оптоэлектронной техники и касается способа определения температурного распределения по поверхности светодиода. Способ включает в себя нанесение на поверхность светодиода пленки покровного материала, определение с помощью ИК тепловизионного микроскопа калибровочной зависимости излучаемого находящимся в нерабочем режиме светодиодом сигнала от температуры при внешнем...

2594655

Способ измерения переходной тепловой характеристики светоизлучающего диода

Способ измерения переходной тепловой характеристики светоизлучающего диода

Изобретение относится к оптоэлектронной измерительной технике и может быть использовано для измерения тепловых параметров полупроводниковых светоизлучающих диодов на различных этапах их разработки и производства, на входном контроле предприятий-производителей светотехнических изделий с использованием светодиодов, а также при выборе режимов эксплуатации указанных изделий. Технический результат - со...

2609815

Способ тестирования светодиода

Способ тестирования светодиода

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для тестирования качества полупроводниковых приборов, в частности светодиодов, с целью выявления в них дефектов, обусловленных дефектностью структуры, качеством монтажа, неравномерностью растекания тока и другими факторами. В способе тестирования светодиода, включающем пропускание через светодиод ступенчато изменяющегося э...

2617148