PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Шеретов Андрей Эрнстович (RU)

Изобретатель Шеретов Андрей Эрнстович (RU) является автором следующих патентов:

Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс)

Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс)

Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) заключается в том, что анализируемые ионы вводят через входной канал в анализа...

2399985

Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")

Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")

Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, «монополь», «триполь») относится к области масс-спектрометрии и может быть использован при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Анализатор содержит устройство сортировки ионов по удельным зарядам, устройство ввода анализируемых ионов в устройство с...

2447539

Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой

Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой

Изобретение относится к области масс-спектрометрии. Анализатор содержит электродную систему и два электрода, ограничивающие по оси z электродную систему, в одном из них выполнены два отверстия: для ввода и вывода анализируемых ионов. При этом значения координат центров отверстий для ввода и для вывода ионов по одноименным координатным осям равны по модулю, но хотя бы одна пара соответствующих зна...

2458428

Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах

Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах

Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании аналитических приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Технический результат- повышение разрешающей способности за счет использования областей общей диаграммы стабильности с повышенной эффективностью сортировки...

2557010