Дегтярев Евгений Иванович (RU)
Изобретатель Дегтярев Евгений Иванович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ испытания безотказности ик многоэлементного фотоприемного устройства Способ испытания безотказности ик многоэлементного фотоприемного устройства](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e65e91a4839947e2180dfff1c61d9274.jpg)
Способ испытания безотказности ик многоэлементного фотоприемного устройства
Изобретение предназначено для испытания безотказности инфракрасных многоэлементных фотоприемных устройств (ИК МФПУ), в которых матрица фоточувствительных элементов установлена внутри герметизированного корпуса, стыкуется с мультиплексором или растром с помощью проводящих индиевых микростолбиков, а ее рабочая температура ниже температуры окружающей среды. Сущность изобретения: для испытания безотк...
2399987![Способ испытания сохраняемости ик многоэлементного фотоприемного устройства Способ испытания сохраняемости ик многоэлементного фотоприемного устройства](https://img.patentdb.ru/i/200x200/09891b54e6e0092666d7191d0ee540e1.jpg)
Способ испытания сохраняемости ик многоэлементного фотоприемного устройства
Изобретение относится к испытаниям сохраняемости инфракрасного (ИК) многоэлементного фотоприемного устройства (МФПУ), содержащего клеевые соединения в вакуумированной полости, с рабочей температурой фоточувствительных элементов ниже температуры окружающей среды, предназначенного для регистрации ИК-излучения. Сущность изобретения: для проведения испытания задают количество циклов хранения, включаю...
2399988