Сысоев Яков Николаевич (RU)
Изобретатель Сысоев Яков Николаевич (RU) является автором следующих патентов:
![Устройство для определения упруго - пластичных свойств материала при одноосном растяжении дугообразных образцов Устройство для определения упруго - пластичных свойств материала при одноосном растяжении дугообразных образцов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e77cb41645827b990637c8394b84bdeb.jpg)
Устройство для определения упруго - пластичных свойств материала при одноосном растяжении дугообразных образцов
Изобретение относится к исследованию механических свойств материала, в частности к определению технологических параметров процессов (усилий, напряжений, деформаций, перемещений). Технический результат заключается в повышении точности определения механических свойств материала тонкостенных оболочек путем исключения влияния на результаты испытаний сил трения при скольжении деформируемого образца от...
2402009![Устройство для определения свойств материала при гидростатическом нагружении тонкостенных оболочек Устройство для определения свойств материала при гидростатическом нагружении тонкостенных оболочек](/img/empty.gif)
Устройство для определения свойств материала при гидростатическом нагружении тонкостенных оболочек
Изобретение относится к исследованию механических свойств материала, в частности к определению технологических параметров процессов (усилий, напряжений, деформаций, перемещений). Технический результат заключается в возможности определения механических свойств материала тонкостенных оболочек при непосредственном гидростатическом испытании самих оболочек или вырезанных из них фрагментов, в повышени...
2410666![Устройство для испытания на растяжение дугообразных образцов из токопроводящего материала при повышенной температуре Устройство для испытания на растяжение дугообразных образцов из токопроводящего материала при повышенной температуре](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d28e4ccb12a827d22089b95ecc6e2e66.jpg)
Устройство для испытания на растяжение дугообразных образцов из токопроводящего материала при повышенной температуре
Изобретение относится к механическим испытаниям, а конкретно к испытаниям токопроводящих материалов с целью получения диаграммы деформирования при одноосном растяжении и импульсном нагреве в вакууме или инертной среде. Устройство выполнено в виде составной круговой направляющей, образованной двумя, имеющими возможность поворота относительно общей оси, фрагментами. Их опорные поверхности совпадаю...
2566393![Устройство для определения свойств материала тонкостенных полусферических сегментов Устройство для определения свойств материала тонкостенных полусферических сегментов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/62ec0784b25aba49ab23e325d13ff8a0.jpg)
Устройство для определения свойств материала тонкостенных полусферических сегментов
Изобретение относится к исследованию механических свойств материалов, а именно к определению технологических параметров процессов (усилий, напряжений, деформаций и перемещений), в том числе и неразрушающим способом. Устройство содержит силовую раму, в состав которой входит нижнее основание, на котором закреплена нижняя зажимная часть, имеющая соответствующую внутренней поверхности полусферического...
2611979