Стрелков Вячеслав Иванович (RU)
Изобретатель Стрелков Вячеслав Иванович (RU) является автором следующих патентов:
![Способ определения количественных параметров пласта методом отраженных волн Способ определения количественных параметров пласта методом отраженных волн](https://img.patentdb.ru/i/200x200/53f3b38b54d37f9bfd2449f068e43816.jpg)
Способ определения количественных параметров пласта методом отраженных волн
Изобретение относится к способам количественной оценки пласта и может найти применение при скважинной диагностике. Сущность: фиксируют множества данных амплитудных и временных характеристик отраженных сигналов, зарегистрированных при круговом измерении параметров азимута в процессе равномерного перемещения скважинного прибора по глубине. Принимая по временному каналу записи отраженных импульсов,...
2402791