Чуркин Юрий Валентинович (RU)
Изобретатель Чуркин Юрий Валентинович (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
Устройство содержит источник монохроматического излучения, держатель образца, вращающееся плоское зеркало и приемник излучения, который подсоединен к регистрирующему устройству. Ось вращения плоского зеркала расположена на его отражающей поверхности. В устройство введены первое сферическое зеркало и второе сферическое зеркало. Первое сферическое зеркало установлено так, что точка, оптически сопря...
2411448
Устройство для бесконтактного измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках (варианты)
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при исследовании как полупроводниковых материалов, так и полупроводниковых приборов, созданных на их основе. Изобретение обеспечивает расширение области применения за счет получения возможности измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках с неизвестными значениями параметров и повышение точност...
2444085
Способ измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках
Использование: для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках. Сущность: заключается в том, что осуществляют зондирование исследуемого образца излучением с энергией фотонов, меньшей ширины запрещенной зоны, модуляцию концентрации неравновесных носителей заряда в полупроводнике, измерение параметров зондирующего излучения, пропущенного через образец или отраженного им...
2450258
Способ бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в тонких полупроводниковых пластинках. В способе используется дифференциальная оптическая схема, при помощи которой луч зондирующего лазера сначала разделяется на два луча, один из которых проходит через образец в той точке, где проводятся измерения, а другой в...
2450387