PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Манухов Василий Владимирович (RU)

Изобретатель Манухов Василий Владимирович (RU) является автором следующих патентов:

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок

Устройство содержит источник монохроматического излучения, держатель образца, вращающееся плоское зеркало и приемник излучения, который подсоединен к регистрирующему устройству. Ось вращения плоского зеркала расположена на его отражающей поверхности. В устройство введены первое сферическое зеркало и второе сферическое зеркало. Первое сферическое зеркало установлено так, что точка, оптически сопря...

2411448

Способ измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках

Способ измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках

Использование: для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках. Сущность: заключается в том, что осуществляют зондирование исследуемого образца излучением с энергией фотонов, меньшей ширины запрещенной зоны, модуляцию концентрации неравновесных носителей заряда в полупроводнике, измерение параметров зондирующего излучения, пропущенного через образец или отраженного им...

2450258

Способ бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках

Способ бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в тонких полупроводниковых пластинках. В способе используется дифференциальная оптическая схема, при помощи которой луч зондирующего лазера сначала разделяется на два луча, один из которых проходит через образец в той точке, где проводятся измерения, а другой в...

2450387

Способ и устройство для определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинках

Способ и устройство для определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинках

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего определения диффузионной длины носителей заряда в полупроводниковых пластинах, в том числе покрытых прозрачным слоем диэлектрика. Способ измерения диффузионной длины носителей заряда в полупроводниковых пластинах включает измерение сигнала, пропорционального неравновесной концентрации носителей заряда...

2578731