Сухов Дмитрий Николаевич (RU)

Группа изобретений относится к способам измерения линейных размеров изделий, микро- и наноэлектроники, а также наноразмерным частицам и к сканирующим электронным микроскопам. Способ измерения линейных размеров объекта с использованием растрового электронного микроскопа как расстояния между инвариантными точками распределений интенсивности реизлучения, формирующего изображение на краях объекта, вк...

Изобретение относится к области оптики и электроники. Устройство для формирования объемного изображения в трехмерном пространстве с реальными объектами содержит первый блок (4) воспроизведения объемного изображения (8) и частично отражающую прозрачную оптическую панель (6), установленную с возможностью отображения объемного изображения (8), формируемого в первом блоке (4) воспроизведения, в област...