КАМИЯ Акира (JP)
Изобретатель КАМИЯ Акира (JP) является автором следующих патентов:
Способ и устройство для калиброванного скважинного спектрального анализа флюидов
Изобретение относится к способам и устройствам для анализа флюида с использованием скважинной архитектуры спектрометра в оценке и испытании подземной формации для целей разведки и разработки углеводорододобывающих скважин, таких как нефтяные и газовые скважины. Система анализа флюида, сконфигурированная для работы в скважине, проходящей формацию, содержит, по меньшей мере, один источник света, ге...
2420718