Темченко Владимир Степанович (RU)
Изобретатель Темченко Владимир Степанович (RU) является автором следующих патентов:

Способ определения геометрических и электрофизических параметров плоскослоистой среды
Способ определения геометрических и электрофизических параметров плоскослоистой среды (ППС). Плоскослоистую среду зондируют сигналом с помощью апертурной приемопередающей антенны, принимают сигналы, отраженные от плоскослоистой среды, предварительно измеряют в безэховой камере фоновый сигнал, отраженный от апертурной приемопередающей антенны и антенно-фидерного тракта, нормируют разностные сигнал...
2421758
Способ диагностики фазированной антенной решетки
Изобретение относится к технике измерений ФАР с большим числом N элементов и может применяться для их диагностики при частичном или полном отказе устройства управления фазой части излучателей тестируемой ФАР в процессе разработки, изготовления, настройки и эксплуатации ФАР. При решении задачи диагностики используют данные комплексных амплитуд токов (или напряжений) возбуждения излучателей и данные...
2623825