ЧЭПМЭН Стивен Р. (US)

Согласно способу изготовления решетки искаженных микрооптических элементов подготавливают подложку, имеющую расположенные с противоположных сторон первую и вторую поверхности с решеткой микрооптических элементов на первой поверхности, подвергают управляемой обработке вторую поверхность. Обработку осуществляют локально с созданием искажений по меньшей мере внутри одного микрооптического элемента н...

Изобретение относится к низкопрофильной системе обнаружения позиции. Технический результат - более точное определение позиции вводимого объекта. Система обнаружения позиции содержит, по меньшей мере, одну камеру, два источника светового излучения, находящихся на расстоянии друг от друга, часть области обнаружения и призматическую пленку, расположенную вдоль внешней границы, по меньшей мере, част...