Матвеев Николай Вадимович (RU)

Изобретение относится к оптике и может быть использовано для определения систематических погрешностей измерений в поляриметрической и эллипсометрической аппаратуре. Способ включает воздействие излучением, прошедшим через поляризатор и анализатор, на испытуемый приемник, при этом анализатор периодически вращают с заданным шагом, на каждом шаге регистрируют интенсивность излучения, из полученной за...